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半導(dǎo)體老化模組

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半導(dǎo)體老化模組
耐高溫：200℃
測試方法：開爾文測試法（四線法）
產(chǎn)品詳情

　　名稱：半導(dǎo)體老化模組

　　耐高溫：200℃

　　測試方法：開爾文測試法(四線法)

半導(dǎo)體老化模組

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耐高溫：200℃
測試方法：開爾文測試法（四線法）
13715308551
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　　名稱：半導(dǎo)體老化模組

　　耐高溫：200℃

　　測試方法：開爾文測試法(四線法)

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